从测量的闪烁体脉冲高度光谱中推导出与深度相关的光逃逸效率和光学斯旺克因子

引用

Howansky 等人，2017

Adrian Howansky、Boyu Peng、Anthony R. Lubinsky 和 ​​Wei Zhao。“通过测量闪烁体脉冲高度谱推导深度相关的光逃逸效率和光学 Swank 因子。”《医学物理学》，第 44 卷，第 2 期，2017 年，第 57-74 页。

关键词

碘化铯
数字 X 射线成像
间接检测
脉冲高度谱
Swank 因子

简介

本文讨论了使用脉冲高度谱测量闪烁体深度相关的光逃逸效率和光学 Swank 因子，尤其关注不同厚度和光学设计的碘化铯闪烁体。

摘要

这篇发表在《医学物理学》上的文章描述了一种计算闪烁体深度相关的光逃逸效率和光学 Swank 因子的新方法。作者发现，闪烁体的光学设计（例如反射背衬或光纤板的存在）是决定这些特性的主要因素。闪烁体的厚度影响较小。作者提出，他们的研究结果可用于改进用于医学成像的闪烁体的设计。

来源：https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5573598/