将高效图像探测器引入X射线成像断层扫描

引用

Uesugi 等人 (2017)

关键词

• X 射线成像
• 微断层扫描
• 图像探测器
• FOP-sCMOS
• 辐射损伤
• 空间分辨率

简介

为了避免样品受到辐射损伤，在X射线成像微断层扫描系统中引入了一种高效X射线图像探测器 (FOP-sCMOS)。

摘要

在X射线成像微断层扫描系统中引入了一种高效X射线图像探测器。该探测器为可见光转换型，由荧光屏、直光纤(1:1)光学元件和科学级CMOS器件组成。与透镜耦合图像探测器系统相比，FOP-sCMOS探测器系统具有更高的转换增益和更高的调制传递函数(MTF)。获得的CT图像显示出测试材料(Cu/Al同心圆图案)的X射线线性吸收系数具有很高的重现性。与之前的系统相比，采用透镜耦合图像探测器系统，X射线强度可降低约10%。

来源：https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/849/1/012051/pdf