用于X射线光子相关光谱的间接照明X射线区域探测器

引用

Shinohara, Y., Imai, R., Kishimoto, H., Yagid, N. 和 Amemiya, Y. (2010). 用于 X 射线光子相关谱的间接照明 X 射线面探测器。《同步辐射杂志》，17(5)，651–657。

关键词

间接照明 X 射线探测器
X 射线光子相关谱

简介

间接照明 X 射线面探测器可用于在积分和光子计数模式下对各种样品进行 X 射线光子相关谱 (XPCS) 测量。

摘要

本文发表于 2010 年的《同步辐射杂志》。作者包括 Yuya Shinohara、Ryo Imai、Hiroyuki Kishimoto、Naoto Yagid 和 Yoshiyuki Amemiya。本文重点介绍间接照明式X射线面探测器在X射线光子相关谱（XPCS）中的应用。
此类探测器可灵活地以两种不同的模式进行测量：积分模式和光子计数模式。

• 积分模式：此模式适用于使用高强度X射线束且辐射损伤对XPCS数据影响较小的情况。
• 光子计数模式：当散射强度较低时，此模式至关重要，因为散射强度较低，难以使用合适的曝光时间在单次曝光中观察到散斑图案。

探测器能够在这些模式之间切换，使其适用于各种X射线散射实验，包括需要高灵敏度的高分辨率衍射实验。

来源：https://journals.iucr.org/s/issues/2010/06/00/wa5015/wa5015.pdf