FIRST INDIRECT X-RAY IMAGING TESTS WITH AN 88-mm DIAMETER SINGLE CRYSTAL

首次对直径 88 毫米单晶进行间接 X 射线成像测试

引文

“首次对直径 88 毫米单晶进行间接 X 射线成像测试”，作者：A.H. Lumpkin 和 A.T. Macrander

关键词

  • X 射线
  • PSF
  • 单晶闪烁体

简介

对独特的 88 毫米直径 YAG:Ce 单晶进行的初步间接 X 射线成像测试表明，其分辨率比相同厚度的标准 P43 多晶荧光粉高出 10 倍。

摘要

提供的来源并未明确说明文章的总体目的。但是，它确实描述了一项旨在测试新型 X 射线成像晶体的实验。作者 A.H. Lumpkin 和 A.T. Macrander 测试了直径 88 毫米的单晶 YAG:Ce 闪烁体。他们发现，与标准多晶荧光粉相比，该晶体表现出更高的空间分辨率。具体来说，该单晶的点扩散函数 (PSF) 为 10.5 微米，而标准多晶荧光粉的点扩散函数 (PSF) 为 100 微米。作者得出结论，该晶体的分辨率和大面积使其适用于晶体衍射测试、晶圆形貌实验和生物医学成像等应用。

来源：https://www.semanticscholar.org/reader/13ef85584b2510d61f1f4107837050f2c6c3a999

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