Performance assessment of CsI(Tl) screens on various substrates for X-ray imaging

不同基底上CsI（Tl）荧光屏X射线成像性能评估

引用

冯兆东，姜鹏，张宏凯，赵博振，秦秀波，魏存锋，刘宇，魏龙。“不同基底上CsI(Tl)荧光屏X射线成像性能评估”。《中国物理C辑》，[已提交]。

关键词

CsI(Tl)闪烁屏
基底
成像性能评估

简介

CsI(Tl)闪烁屏的X射线成像性能可以通过使用不同的基底（例如石墨、镀银SiO2和光纤板）来优化，从而控制光输出、空间分辨率和信噪比等光学特性。

摘要

这篇投稿至《中国物理C》的文章，探讨了不同基底对X射线成像中使用的掺铊碘化铯（CsI(Tl)）屏幕性能的影响。
作者使用了四种基底：熔融石英（SiO2）、镀银膜的SiO2、石墨（C）和光纤板（FOP）。他们使用相对光输出（RLO）、调制传递函数（MTF）、归一化噪声功率谱（NNPS）和噪声等效量子（NEQ）等指标评估了每种屏幕的成像性能。

主要发现：

  • 石墨（C-Subs）：C-Subs虽然产生的图像最暗，但提供了最高的空间分辨率（MTF）和良好的信噪比（NEQ），这可能是由于其能够吸收后向闪烁光子。
  • 镀银二氧化硅 (Ag-SiO2-Subs)：与裸二氧化硅相比，银膜通过反射后向散射光子增强了光输出。
  • 二氧化硅 (SiO2-Subs)：与 FOP 和 C-Subs 相比，基于二氧化硅的屏幕（无论是否镀银）均表现出较低的空间分辨率和较差的信噪比。
  • 光纤板 (FOP-Subs)：由于光纤能够有效引导闪烁光子，基于 FOP 的屏幕可产生最明亮的图像，并展现出最佳的 NNPS 性能和较高的 NEQ。然而，它们的空间分辨率最低。

该研究得出结论，通过选择合适的基底，可以定制CsI(Tl)屏幕的性能，以满足不同X射线成像应用的特定需求。

来源：https://www.semanticscholar.org/reader/5a3e304b42183a7c43e01e454c08c460ea29d86f

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