Taking a look at the calibration of a CCD detector with a fiber-optic taper

使用光纤锥校准 CCD 探测器

引用

Alkire, R. W., Rotella, F. J., Duke, N. E. C., Otwinowski, Z., & Borek, D. (2016). 使用光纤锥校准CCD探测器的研究。《同步辐射杂志》，23(2)，438–446。

关键词

  • CCD探测器
  • 光纤锥校准
  • 平场校准
  • 数据缩放
  • 异常信号

简述

对Area Detector Systems Corporation的Quantum 210r探测器进行了一系列测试，以检验其性能和校准特性。最终结果表明，虽然部分平场测试显示被测模块的响应一致、均匀，但探测器内部点扩展函数的变化会影响性能。

摘要

这篇发表于2016年《同步辐射杂志》的文章由R. W. Alkire、F. J. Rotella、N. E. C. Duke、Zbyszek Otwinowski和Dominika Borek共同撰写，研究了带有光纤锥的CCD探测器的校准和性能。作者发现，虽然探测器在平场测试中表现出与制造商校准一致的均匀响应，但使用硅单晶衍射峰的实验表明，当测量点从探测器模块的中心移到其角落时，强度会显著下降。

主要发现：

  • 强度下降：当测量点从探测器模块的中心移到角落时，强度会显著下降，最高可达30%。
  • 点扩展函数变异性：这种强度损失归因于探测器上点扩展函数的变化，而这主要是由于光纤锥的弯曲造成的。
  • 平场校准的局限性：标准平场校准方法不足以解决这些点扩展函数变化问题。
  • 软件校正：Scalepack 等数据处理软件可以通过比较对称等效反射并对观察到的变化进行建模来校正这种强度损失。

本文重点介绍了传统校准方法对带光纤锥的 CCD 探测器的局限性，并强调了软件校正在实现精确强度测量中的关键作用。

来源：https://europepmc.org/backend/ptpmcrender.fcgi?accid=PMC4815871&blobtype=pdf

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