X射线增强型CMOS相机中成像传感器的校准和光纤锥度引起的畸变

引用

文章“X射线增强型CMOS相机中成像传感器及光纤锥度引起的畸变的校准”的具体出版期刊尚未公布。但该文章于2019年12月17日被分配了数字对象标识符10.1109/ACCESS.2019.2960259。

关键词

畸变校正
X射线图像传感器
CMOS
光纤锥度
RANSA

简介

本文提出了一种校准X射线增强型CMOS相机中成像传感器并校正光纤锥度引起的畸变的方法。

摘要

本文提出了一种用于医疗诊断、工业检测和核安全监控等应用的图像采集的X射线增强型CMOS相机的校准方法。该方法涉及校正CMOS传感器和光纤锥的畸变，包括列噪声、不一致和非线性像素强度响应以及几何畸变。

标定方法：

列噪声校正：在相同曝光时间下，在暗场中拍摄多幅图像。取这些图像的平均值估计标准列噪声图像。重复此过程多次，并对结果进行处理以确定列噪声估计公式。
像素强度响应校正：采用两步法。首先，计算所有像素的理想强度响应线。然后，估计每个像素的校正误差，并使用多项式函数进行补偿。
几何畸变校正：采用多项式拟合，并结合随机抽样一致性 (RANSAC) 方法，校正几何畸变。
该标定方法综合考虑光纤锥和相机的光学特性来选择关键参数，旨在提高标定精度和效率。本文包含实验结果以及关于该方法有效性和局限性的讨论。

提供的文本未明确指出本文发表的期刊名称。

来源：https://ieeexplore.ieee.org/ielx7/6287639/8600701/08935227.pdf