Real-time monitoring of a positron beam using a microchannel plate in single-particle mode

使用微通道板在单粒子模式下实时监测正电子束

引用

G. Vinelli 等人，“使用微通道板在单粒子模式下实时监测正电子束”，《仪器与控制杂志》，P11030 (2020)。

关键词

  • 正电子束监测
  • 微通道板 (MCP)
  • 单粒子检测
  • 束流表征
  • 检测效率
  • 空间分辨率
  • 重叠效应
  • 应用

简介

本文介绍了一种使用微通道板 (MCP) 实时监测和表征正电子束的方法，并分析由此产生的单粒子事件以获取束流强度、空间位置、形状和宽度等信息。

摘要

这篇发表于《仪器仪表杂志》2020年的文章由G. Vinelli、R. Ferragut、M. Giammarchi、G. Maero、M. Romé和V. Toso共同撰写，描述了一种使用微通道板 (MCP) 探测器实时监测和表征正电子束的方法。

以下是主要发现：

  • 作者使用其MCP/荧光屏装置实现了60±2 μm的单粒子探测空间分辨率。
  • 研究发现，MCP对低能正电子（50 eV至17 keV）的探测效率在45%至71%之间变化，具体取决于正电子的能量。值得注意的是，在0.5 keV以上能量下，正电子的探测效率高于电子的探测效率。
  • 该研究强调了该方法能够实时量化正电子束强度和几何形状，该方法为每个检测到的粒子赋予相同的统计权重。
  • 通过模拟，研究人员了解了光斑尺寸、光束宽度和光斑数量对重叠效应的影响，这些影响可能会影响数据解释。

作者强调了这种实时检测方法在反物质干涉和偏转实验中的潜力。在承认核乳胶具有优异的空间分辨率的同时，他们提出，使用磁透镜或莫尔旋转效应可以提高基于MCP系统的分辨率，使其适用于识别反物质的干涉或偏转模式。

来源：https://air.unimi.it/bitstream/2434/800245/2/Vinelli_2020_J._Inst._15_P11030.pdf

返回博客