
用于空间自相关测量的微通道板串扰缓解
引用
Lipka, M., Parniak, M., & Wasilewski, W. (2018). 空间自相关测量中微通道板串扰抑制方法。arXiv, 1–7。此引用格式符合 APA 格式。
关键词
- 微通道板 (MCP)
- 串扰
- 二阶强度自相关函数 (g(2)(r))
- I-sCMOS 相机
- 图像增强器
- 单光子能级
- 赝热光
- 暗计数
- 空间自相关测量
- 互相关测量
- 量子光学
简介
一种新方法可以抑制微通道板 (MCP) 微通道之间的串扰,该微通道板用于空间分辨单粒子探测器,从而能够测量光的二阶强度自相关函数 g(2)(r)。
摘要
微通道板 (MCP) 是单粒子探测器不可或缺的一部分,但其微通道之间存在串扰,阻碍了空间表征。本文提出了一种串扰消除方法,并通过使用 I-sCMOS 相机测量单光子级伪热光的二阶强度自相关函数 (g(2)) 进行了实验验证。
- 当二次发射电子散射回 MCP 时,会在远处的微通道中触发额外的雪崩效应,并在光子计数中产生人为的相关性,从而产生串扰。
- 该方法利用暗计数测量来校准和量化径向串扰概率分布。
- 假设总串扰符合数与光子计数之间存在线性关系,通过去除一定比例的测量符合数,可以得到校正后的 g(2)。
- 使用伪热光进行的验证表明,校正后的自相关与参考互相关和理论预测相符。
- 该方法适用于任何基于MCP的应用。
- 该技术通过在单个MCP区域内进行自相关测量,简化了实验设置,增强了量子信息处理技术的空间表征能力。
本文总结道,该方法允许在单激发水平上进行自相关测量,从而简化了实验设置,并增强了量子光学及其他领域的空间表征能力。
来源:https://www.semanticscholar.org/reader/d13322fa952c64743322cafaae39c5cfb0be4d4a