门控微通道板 X 射线分幅相机的增益均匀性、线性度、饱和度和损耗

引用

Landen, O.L., Bell, P.M., Oertel, J.A., Satariano, J.J., & Bradley, D.K. (1994). 门控微通道板X射线分幅相机的增益均匀性、线性度、饱和度和损耗。载于SPIE 1993国际光学仪器与应用科学研讨会。

关键词

微通道板
X射线
X射线分幅相机

简介

本文探讨了微通道板(MCP)探测器在X射线分幅相机中的应用，该相机常用于激光等离子体实验。作者利用短脉冲、长脉冲X射线辐照以及深紫外激光辐照对探测器进行了校准。

摘要

1994 年发表的文章《门控微通道板 X 射线分幅相机中的增益均匀性、线性度、饱和度和损耗》探讨了 X 射线分幅相机中使用的门控微通道板 (MCP) 探测器的性能。作者 O. L. Landen、P. M. Bell、J. A. Oertel、J. J. Satariano 和 D. K. Bradley 探讨了这些探测器的各个方面，包括增益均匀性、线性度、饱和度和损耗。本文介绍了校准结果、增益饱和和损耗模型，并讨论了其研究结果的实际意义。作者发现，虽然增益损耗对于非饱和数据通常可以忽略不计，但当某些帧严重饱和时，它会影响图像质量，尤其是在多帧 X 射线成像中。

来源：https://digital.library.unt.edu/ark:/67531/metadc1400800/m2/1/high_res_d/10181545.pdf