微通道板(MCP):端面扰流
微通道板(MCP)中的端面扰流是指电极材料在微通道板(MCP)输出端沉积到孔径内,沉积深度可达数个孔径。该技术有助于聚焦微通道板(MCP)输出端的电子,降低其横向速度。输出端的端面扰流可以提高空间分辨率,但会降低增益。空间分辨率和增益之间存在一个权衡,建议的端面扰流值(h)约为1-2。h值表示电极长度(b)与孔径(d)的比值。
微通道板(MCP)的输入端也采用端面扰流,h值通常介于0.5到0.8之间。
端部扰动的影响:
- 如模拟结果所示,电子能量分布 (N(E)) 会变窄,h 值的变化(0、0.5、1 和 3)会使其变窄。
- 当端部扰动值为 1.5 时,空间分辨率会略有提升(约 10%)。然而,模拟结果显示,端部扰动不会对角度分布产生系统性影响。
- 由于电极长度 (h) 内的电场梯度为零,导致该区域内没有增益,因此会降低 微通道板(MCP) 增益。实验中观察到了这种效应,增益会随着端部扰动值(h = 1.2、2.2、3 和 4)的增加而降低。
控制端部扰动:
在 微通道板(MCP) 制造过程中,控制端部扰动至关重要。虽然射频磁控溅射是沉积 Ti 和 Cu 等材料的常用技术,但由于其非视线沉积特性,它不适合控制端部扰动。蒸发技术对于精确控制端部扰动至关重要。