微通道板（MCP）：离子反馈

离子反馈，也称为离子反馈效应，发生在微通道板 (MCP) 中。当 微通道板（MCP）在高增益下工作时，通道内的残留气体会被倍增电子电离。这些离子随后在电场的作用下加速向微通道板（MCP） 的输入侧移动。到达输入侧后，这些离子会引发额外的电子雪崩，产生伪信号，从而降低信噪比。这种现象会导致微通道板（MCP）性能不稳定。离子轰击还会损坏光电阴极，降低量子效率 (QE) 并导致总增益下降。

影响离子反馈的因素：

• 微通道板（MCP）增益：在较高增益下操作 微通道板（MCP）会增加残留气体电离的可能性，从而增加离子反馈的可能性。
• 真空质量：真空条件较差，意味着残留气体含量较高，会增加离子反馈的可能性。

离子反馈的影响：

• 虚假信号：离子反馈会产生杂散脉冲，产生可能被误认为真实事件的干扰信号。
• 脉冲高度分布 (PHD) 性能下降：离子反馈引起的杂散脉冲会对 PHD 产生负面影响，使其宽度增加且清晰度降低。
• 微通道板（MCP）寿命缩短：离子反馈产生的离子轰击会损坏通道壁，最终缩短 微通道板（MCP） 的使用寿命。

离子反馈缓解：

• 提高真空质量：提高真空质量是减少离子反馈的关键策略。这可以最大限度地减少微通道板（MCP）通道内可能被倍增电子电离的残留气体分子。电离后的气体离子会返回微通道板（MCP）的输入侧，从而导致虚假信号和潜在的放电事件。建议使用无油真空系统，如果无法避免使用油扩散泵，则必须使用油阱。
• 微通道板（MCP）堆叠和偏置角：在多级微通道板（MCP）配置（例如 Chevron 人字型或 Z 字型堆叠）中，排列两个或三个具有相反偏置角的微通道板（MCP）可以有效抑制离子反馈。这种排列方式可以将残留气体产生的离子捕获在每个微通道板（MCP）之间的连接处。