焦点面検出器を用いた小型二重焦点質量分析装置の開発
引用
西口 正之・田中 正之・石田 正之・荻原 正之・杉山 孝文・越原 一雄 (2006). 焦点面検出器を用いた小型二重焦点質量分析装置の開発. J.マススペクトル。 日本学会、 54 （1）。
キーワード
簡単な
月面探査用に設計された小型の二重焦点質量分析計は、焦点面検出器を使用して広い質量範囲にわたってイオンを同時に検出し、高い感度と定量性能を実現します。
まとめ
この記事では、将来の月や惑星の探査を目的とした、新しく設計された小型の二重焦点式質量分析計を紹介します。マタウチ・ヘルツォーク幾何学に基づくイオン光学システムは、マイクロチャネルプレート (MCP)、蛍光体層、光ファイバープレート、電荷結合素子 (CCD) で構成される焦点面検出器を使用します。質量分析計は、シミュレーションと一致して 130 の質量分解能を示しました。この機器は、検出器の飽和なしにクリプトン (Kr) とネオン (Ne) の安定同位体を検出し、300 のダイナミック レンジを達成しました。
出典: https://www.jstage.jst.go.jp/article/massspec/54/1/54_1_1/_pdf
