Millimeter-Wave Substrate Integrated Waveguide Using Micromachined Tungsten-Coated Through Glass Silicon Via Structures

マイクロマシン加工されたタングステンコーティングガラスシリコン貫通ビア構造を使用したミリ波基板集積導波管

引用

Hyeon, I.-J.; Baek, C.-W. マイクロマシン加工されたタングステンコーティングガラスシリコン貫通ビア構造を使用したミリ波基板統合導波管。Micromachines 2018 , 9 , 172。
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キーワード

  • 基板集積導波路(SIW)
  • ガラスシリコン貫通ビア(TGSV)
  • ガラスインターポーザー
  • ガラス越しの鉄道(TGV)
  • ミリ波
  • マイクロマシニング
  • タングステンコーティング
  • 挿入損失

簡単な

この記事では、性能と統合機能を向上させるために、マイクロマシン加工されたタングステンコーティングされたガラスシリコンビア (TGSV) を使用してガラス基板上にミリ波基板集積導波路 (SIW)製造する新しい方法を紹介します。

まとめ

この記事では、マイクロマシン加工されたタングステンコーティングされたガラスシリコン貫通ビア (TGSV) 構造を使用してミリ波基板集積導波路 (SIW) を製造する新しい方法を紹介します。

この研究の主な側面は次のとおりです。

  • 動機:著者らは、半導体プロセスと簡単に統合できず、コストが高くなる可能性がある既存の SIW 製造技術の限界に対処することを目指しています。損失が少なくコスト効率に優れたガラスインターポーザーが、有望な代替手段として提示されています。
  • 提案されたソリューション:研究者らは、シリコンビアの深部反応性イオンエッチング (DRIE)、選択的タングステンコーティング、およびガラスリフローを組み合わせて、ガラス基板に埋め込まれた TGSV を作成する手法を提案しています。このアプローチにより、ガラスの穴あけとメタライゼーションの個別の手順が不要になります。
  • 利点:タングステンコーティングされた TGSV は、従来の金属ビアの効果的な代替品であることが実証されており、挿入損失を損なうことなく同等のパフォーマンスを提供します。製造プロセスは半導体製造と互換性があり、シリコンベースの回路や要素との統合が可能です。
  • 実験検証:提案された方法を使用して製造された Ka バンド SIW プロトタイプは、20 GHz ~ 45 GHz の周波数範囲で平均挿入損失 0.69 ± 0.18 dB と 10 dB を超えるリターン損失を示し、他の報告されているミリ波 SIW に匹敵します。
  • 潜在的な用途:開発された技術は、導電性ビアを備えたガラス基板を必要とするインダクタ、フィルター、アンテナなどのさまざまなミリ波デバイスに潜在的に応用できます。

出典: https://www.semanticscholar.org/reader/e18086d1a9eace2ab48e82885af8a8c839ad17f5

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