Measurements with a 35-psec gate time microchannel plate camera

35ピコ秒ゲートタイムマイクロチャネルプレートカメラによる測定

引用

提供された文書は、ジャーナルまたは議事録に掲載されることを目的とした記事のプレプリントです。これは、カリフォルニア大学ローレンス リバモア国立研究所の PE Bell、JD Kilkenny、R. Hanks、および O. Landen によって 1990 年 7 月に執筆されました。著者らは、プレプリントは許可なく引用または複製されないという了解のもとで公開されていると述べています。

キーワード

  • マイクロチャネルプレート
  • X線検出器
  • ゲートタイム
  • 電子の通過時間
  • アスペクト比
  • 身長/体重
  • 電圧パルス
  • 得
  • モデリング
  • 測定

簡単な

この文書では、マイクロチャネル プレート X 線検出器で可能なゲート時間を測定する実験のプロセスと結果について説明します。

まとめ

この記事は、PE Bell、JD Kilkenny、R Hanks、O. Landen によって 1990 年 7 月に執筆されたもので、マイクロチャネル プレート (MCP) の厚さとアスペクト比を減らすことで、検出器で使用する X 線ゲート時間を大幅に短縮できる方法について説明しています。著者らは、モデル化と実験測定を組み合わせて、ゲート時間を 34 ピコ秒まで短縮するという発見を裏付けています。

より高速な X 線検出器の必要性は、急速に進化し、微細な空間構造を持つレーザー生成プラズマの研究から生じています。従来の MCP 検出器は厚さ 0.5 mm で、ゲート時間は通常約 100 ピコ秒です。

この記事の主な調査結果は次のとおりです。

  • アスペクト比 20 の 0.2 mm 厚の MCP を使用した測定では、X 線ゲート時間は 35 ピコ秒であることが示されました。
  • 著者らは、実験結果とよく一致する時間依存モデルを開発し、MCP ゲート時間の理解と予測に対するアプローチを検証しました。
  • 彼らは、最小ゲート時間は主に MCP を通過する電子の移動時間によって決まることを発見しました。
  • MCP の厚さとアスペクト比を減らし、印加電圧を上げると、通過時間がさらに短縮され、ゲート時間も短縮されます。

この記事は、MCP にゲート電圧を供給するために使用されるマイクロストリップにおける電気パルスの分散と損失を最小限に抑えることの重要性についても強調しています。著者らは、特殊なマイクロストリップ設計を使用して、電気パルスの立ち上がり時間を 48 ピコ秒に達成しました。

出典: https://digital.library.unt.edu/ark:/67531/metadc1213030/m2/1/high_res_d/6311220.pdf

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