マイクロチャネルプレート検出器のモンテカルロシミュレーション。I. 定常電圧バイアス結果

引用

Wu, M., Kruschwitz, CA, Morgan, DV, & Morgan, J. (2007). マイクロチャネルプレート検出器のモンテカルロシミュレーションI：定常電圧バイアス結果。Review of Scientific Instruments、78 （10）、103504_。

キーワード

• マイクロチャネルプレート検出器
• モンテカルロシミュレーション
• 電子カスケード
• 二次排出物収量
• 空間解像度
• 得
• 輸送時間
• バイアス電圧
• X線検出器
• 鉛ガラス
• 電子輸送

簡単な

著者らは、マイクロチャネルプレート検出器の新しいモンテカルロシミュレーションモデルを開発し、そのモデルを実験結果と比較しました。

まとめ

著者らは、静的印加電圧下でのマイクロチャネルプレート (MCP) 内の電子カスケードをシミュレートするモンテカルロ コンピュータ コードを作成しました。シミュレーションには、低電圧で重要となるチャネル壁からの低エネルギー電子の弾性反射が含まれています。モデル結果を測定された MCP 感度と比較すると、良好な一致が見られました。 MCP ベースの検出器の空間分解能シミュレーションも発表され、実験測定と一致することが確認されました。著者らは、MCP シミュレーションを拡張してナノ秒未満のパルス電圧を含め、空間電荷、正の壁電荷の蓄積、ストリップ電流の制限による MCP 飽和を研究する予定です。

出典: https://digital.library.unt.edu/ark:/67531/metadc893923/m2/1/high_res_d/935745.pdf