X선을 감지할 수 있는 물체는 무엇입니까?

엑스레이를 감지할 수 있는 물체

전자기 방사선의 한 형태인 X선은 에너지 수준이 높기 때문에 식별 및 측정을 위해 특수 검출기가 필요합니다. 다음은 X선을 감지할 수 있는 주요 물체입니다.

사진 필름은 X선을 감지할 수 있지만 반응을 일으키려면 가시광선보다 더 많은 노출이 필요합니다. X선 광자는 필름의 할로겐화은 결정에 영향을 미쳐 가시 형태로 현상되는 잠상을 생성합니다. 이 방법은 X선 영상 촬영에 사용된 최초의 방법 중 하나입니다.

가이거-뮐러 관은 X선을 포함한 전리 방사선을 감지하는 가스로 채워진 장치입니다. X선이 튜브에 들어가면 가스를 이온화하여 측정 가능한 전기 펄스를 유발하는 이온과 전자를 생성합니다.

섬광 검출기는 X선이 닿으면 형광을 발산하는 섬광 물질을 사용하여 고에너지 광자를 가시광선으로 변환합니다. 그런 다음 이 빛은 광전자 증배관 또는 고체 광 검출기에 의해 감지되고 측정됩니다.

실리콘 드리프트 검출기 및 전하결합소자(CCD) 와 같은 반도체 검출기는 들어오는 X선에 의해 반도체 재료에서 생성된 이온화에 의해 작동합니다. 이 검출기는 X선 검출에서 높은 해상도와 효율성으로 유명합니다.

CCD는 특히 X선에 민감한 일종의 반도체 검출기입니다. X선 광자를 캡처하고 전자 신호로 변환하여 고품질의 상세한 이미지를 생성합니다.

비례 계수기 및 이온화 챔버와 같은 가스 충전 감지기는 가스 챔버에서 생성된 이온화를 통해 X선을 측정합니다. 이러한 검출기는 설계와 용도가 다양하지만 일반적으로 다양한 X선 에너지에 대한 감도 때문에 사용됩니다.

직접 검출 평면 패널 검출기는 비정질 셀레늄을 활용하고 신틸레이터 없이 X선을 직접 전자 신호로 변환합니다. 이러한 검출기는 높은 공간 분해능과 실시간 이미지 생성 기능으로 인해 의료 방사선 촬영에 널리 사용됩니다.

간접 검출 평면 패널 검출기는 신틸레이터 재료(예: 요오드화세슘)를 사용하여 X선을 빛으로 변환한 후 포토다이오드 어레이에 의해 검출됩니다. 그들은 효율성이 높이 평가되며 다양한 의료 및 산업 응용 분야에 일반적으로 사용됩니다.