MCP: 채도 효과

MCP의 포화 효과는 입력 신호 또는 출력 전압이 너무 높을 때 MCP 검출기의 성능과 신뢰성을 제한하는 현상입니다.
MCP의 포화 효과 중 일부는 다음과 같습니다.

• 전하 고갈: 이는 높은 입력 신호 또는 높은 출력 전압으로 인해 마이크로채널에서 사용 가능한 전하가 소진되는 효과입니다. 전하 고갈은 MCP의 이득과 출력 전류를 감소시키고 출력 신호의 비선형 응답과 왜곡을 유발합니다.
• 공간 전하 필드 제한: 이는 전자 축적으로 인해 마이크로채널 내부에 음의 전기장이 생성되는 효과입니다. 공간 전하 필드 제한은 적용된 전기장에 반대되며 전자의 가속도와 에너지를 감소시킵니다. 이는 또한 MCP의 이득과 출력 전류를 감소시키고 출력 신호의 비선형 응답과 왜곡을 유발합니다.
• 2차 방출 표면 효과: 이는 높은 입력 신호 또는 높은 출력 전압으로 인해 채널 벽의 2차 방출 계수가 변경되는 효과입니다. 2차 방출 표면 효과는 전자 증폭과 MCP의 이득을 변경하고 출력 신호의 비선형 응답과 왜곡을 유발합니다.

다음과 같은 적절한 매개변수와 기술을 사용하여 MCP의 포화 효과를 피하거나 최소화할 수 있습니다.

• 입력 신호 또는 출력 전압을 MCP의 최대 정격을 초과하지 않는 수준으로 줄입니다.
• 펄스 전압 또는 게이팅 회로를 사용하여 MCP에 적용되는 전압의 지속 시간과 주파수를 제어합니다.
• 저항 코팅 또는 바이어스 각도를 사용하여 MCP의 전기 및 열 특성을 최적화합니다.
• 맞춤형 바이어스 스트링을 사용하여 이득 포화 메커니즘에 대응하는 초선형 기술을 사용합니다.