X선 광자 상관 분광법을 위한 간접 조명 X선 영역 검출기

소환

Shinohara, Y., Imai, R., Kishimoto, H., Yagid, N., & Amemiya, Y. (2010). X선 광자 상관 분광법을 위한 간접 조명 X선 영역 검출기입니다. 싱크로트론 방사선 저널 , 17 (5), 651-657.

키워드

• 간접조명 X선 검출기
• X선 광자 상관 분광법

짧은

ㅏ 간접 조명 X선 영역 검출기는 통합 모드와 광자 계수 모드 모두에서 다양한 시료의 X선 광자 상관 분광법(XPCS) 측정에 사용할 수 있습니다.

요약
싱크로트론 방사선 저널 에 실린 이 기사는 2010년 에 출판되었습니다. 저자는 시노하라 유야, 이마이 료, 키시모토 히로유키, 야기드 나오토, 아마미야 요시유키 입니다. 이 기사에서는 X선 광자 상관 분광법(XPCS)을 위한 간접 조명 X선 영역 검출기 의 사용에 중점을 둡니다.
이러한 유형의 검출기는 통합 및 광자 계수라는 두 가지 모드로 측정을 수행할 수 있는 유연성을 갖추고 있습니다.

• 통합 모드: 이 모드는 고강도 X선 빔을 사용할 때 적합하며 XPCS 데이터에 영향을 미치는 방사선 손상에 대한 우려가 최소화됩니다.
• 광자 계산 모드: 이 모드는 산란 강도가 낮아 적절한 노출 시간을 사용하여 단일 샷에서 반점 패턴을 관찰하기 어려울 때 필수적입니다.

이러한 모드 사이를 전환할 수 있는 검출기의 기능은 다양한 X선 산란 실험에 적합합니다. 여기에는 높은 감도가 필요한 고해상도 회절 실험이 포함됩니다.

출처: https://journals.iucr.org/s/issues/2010/06/00/wa5015/wa5015.pdf