MCP:이온 피드백
이온 피드백 효과라고도 알려진 ION 피드백은 마이크로채널 플레이트(MCP)에서 발생합니다. MCP가 높은 이득으로 작동되면 채널 내의 잔류 가스가 전자의 증폭으로 이온화될 수 있습니다. 그런 다음 이러한 이온은 전기장에 의해 MCP의 입력쪽으로 가속됩니다. 입력 측에 도달하면 이러한 이온은 추가 전자 사태를 시작하여 신호 대 잡음비를 저하시키는 잘못된 신호를 생성할 수 있습니다. 이 현상은 MCP의 불안정한 동작으로 이어질 수 있습니다. 이온 충격은 또한 광전 음극을 손상시켜 양자 효율(QE)을 감소시키고 전반적인 이득을 떨어뜨릴 수 있습니다.
이온 피드백에 영향을 미치는 요인:
- MCP 게인: MCP를 더 높은 게인으로 작동하면 잔류 가스 이온화 가능성이 높아져 결과적으로 이온 피드백이 발생합니다.
- 진공 품질: 진공 상태가 좋지 않아 잔류 가스가 더 많이 존재한다는 의미이며 이온 피드백 가능성이 높아집니다.
이온 피드백의 영향:
- 잘못된 신호: 이온 피드백은 가짜 펄스를 생성하여 실제 이벤트로 착각할 수 있는 원치 않는 신호를 생성합니다.
- 펄스 높이 분포(PHD) 저하: 이온 피드백으로 인한 스퓨리어스 펄스는 PHD에 부정적인 영향을 미쳐 PHD를 더 넓고 덜 뚜렷하게 만듭니다.
- MCP 수명 감소: 이온 피드백으로 인한 이온 충격은 채널 벽을 손상시켜 궁극적으로 MCP의 작동 수명을 단축시킬 수 있습니다.
이온 피드백 완화
- 향상된 진공 품질: 진공 품질을 향상시키는 것은 이온 피드백을 줄이기 위한 핵심 전략입니다. 이는 증폭된 전자에 의해 이온화될 수 있는 MCP 채널 내의 잔류 가스 분자의 존재를 최소화합니다. 이온화된 가스 이온은 MCP의 입력 측으로 다시 이동하여 잘못된 신호와 잠재적인 방전 이벤트를 발생시킵니다. 오일 프리 진공 시스템 사용을 권장하며, 오일 확산 펌프가 불가피한 경우 오일 트랩은 필수입니다.
- MCP 스태킹 및 바이어스 각도: Chevron 또는 Z-stack과 같은 다단계 MCP 구성에서 바이어스 각도가 반대인 2개 또는 3개의 MCP를 배열하면 이온 피드백이 효과적으로 억제됩니다. 이 배열은 각 MCP 사이의 접합부에서 잔류 가스에서 생성된 이온을 트랩합니다.