유리 코어 기판

전자 장치 패키징 공정 중 열 응력 발생을 최소화하기 위한 새로운 유리 기판

소환 * Nomura, S., Sawamura, S., Hanawa, Y., Sakai, Y., & Hayashi, K. (2016). 전자 장치 패키징 공정 중 열 응력 발생을 최소화하기 위한 새로운 유리 기판입니다. , 2016, 607-617. CTE...

전자 장치 패키징 공정 중 열 응력 발생을 최소화하기 위한 새로운 유리 기판

소환 * Nomura, S., Sawamura, S., Hanawa, Y., Sakai, Y., & Hayashi, K. (2016). 전자 장치 패키징 공정 중 열 응력 발생을 최소화하기 위한 새로운 유리 기판입니다. , 2016, 607-617. CTE...

3차원 마이크로 및 나노소자 개발을 위한 나노결정질 다이아몬드-유리 플랫폼

소환 Janssens, SD, Vázquez-Cortés, D., Giussani, A., Kwiecinski, JA, & Fried, E. (2019). 3차원 마이크로 및 나노소자 개발을 위한 나노결정질 다이아몬드-유리 플랫폼. 다이아몬드 및 관련 재료 , 98 , 107511....

3차원 마이크로 및 나노소자 개발을 위한 나노결정질 다이아몬드-유리 플랫폼

소환 Janssens, SD, Vázquez-Cortés, D., Giussani, A., Kwiecinski, JA, & Fried, E. (2019). 3차원 마이크로 및 나노소자 개발을 위한 나노결정질 다이아몬드-유리 플랫폼. 다이아몬드 및 관련 재료 , 98 , 107511....

이종 통합 애플리케이션을 위한 3D 시스템 패키지용 유리 패널 임베딩 설계 및 시연

소환 Ravichandran, S., Yamada, S., Ogawa, T., Shi, T., Liu, F., Smet, V., Sundaram, V., & Tummala, R. (2019). 이종 통합 애플리케이션을 위한 3D 시스템 패키지용 유리 패널 내장 설계...

이종 통합 애플리케이션을 위한 3D 시스템 패키지용 유리 패널 임베딩 설계 및 시연

소환 Ravichandran, S., Yamada, S., Ogawa, T., Shi, T., Liu, F., Smet, V., Sundaram, V., & Tummala, R. (2019). 이종 통합 애플리케이션을 위한 3D 시스템 패키지용 유리 패널 내장 설계...

RF MEMS용 유리 패키징

소환 Parmar, R., & Zhang, J. (2018). RF MEMS용 유리 패키징. 마이크로전자공학에 관한 국제 심포지엄 . 키워드 유리 포장 RF MEMS 5G 모바일 네트워크 유리 비아(TGV)를 통해 저손실 높은 저항력...

RF MEMS용 유리 패키징

소환 Parmar, R., & Zhang, J. (2018). RF MEMS용 유리 패키징. 마이크로전자공학에 관한 국제 심포지엄 . 키워드 유리 포장 RF MEMS 5G 모바일 네트워크 유리 비아(TGV)를 통해 저손실 높은 저항력...

인터커넥트를 통한 고급 유리 관통형 제조 및 특성화

소환 저자: Timothy Clingenpeel, Arian Rahimi, 황보세희, 윤용규, Aric Shorey 제목: 인터커넥트를 통한 첨단 관통 유리의 제작 및 특성화 컨퍼런스: 국제 마이크로전자공학 심포지엄(ISOM) 진행 연도: 2016 페이지 번호: 288-295 출판사:...

인터커넥트를 통한 고급 유리 관통형 제조 및 특성화

소환 저자: Timothy Clingenpeel, Arian Rahimi, 황보세희, 윤용규, Aric Shorey 제목: 인터커넥트를 통한 첨단 관통 유리의 제작 및 특성화 컨퍼런스: 국제 마이크로전자공학 심포지엄(ISOM) 진행 연도: 2016 페이지 번호: 288-295 출판사:...

유리 관통 비아(TGV) 응용 분야에 대한 바이어스 온도 응력 조건에서 유리로의 Cu 확산

소환 Kim, H., Cai, L., Fahey, A., Vaddi, R., Zhu, B., & Mazumder, P. (2018). 유리 관통 비아(TGV) 응용 분야에 대한 바이어스 온도 응력 조건에서 유리로 Cu가 확산됩니다. 통합 마이크로시스템...

유리 관통 비아(TGV) 응용 분야에 대한 바이어스 온도 응력 조건에서 유리로의 Cu 확산

소환 Kim, H., Cai, L., Fahey, A., Vaddi, R., Zhu, B., & Mazumder, P. (2018). 유리 관통 비아(TGV) 응용 분야에 대한 바이어스 온도 응력 조건에서 유리로 Cu가 확산됩니다. 통합 마이크로시스템...